电子产品高温试验（电子产品高温老化测试国家标准）

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本文目录一览：

1、温度范围在-40℃~125℃，时间范围在24h~168h。高温老化测试是测试电子元器件在高温环境下的耐久性的一种测试，是电子元器件的重要性能指标，可以反映出元器件在环境温度变化的情况下的稳定性和可靠性。

2、高温一般48小时，低温24小时。高低温试验是用来确定产品在高温气候环境条件下储存、运输、使用的适应性。试验的严苛程度取决于高温的温度和曝露持续时间。

3、温度范围：-70℃～10℃。高温试验按GB/T2422—89《电工电子产品环境试验第二部分：试验方法高温试验》；GB/T24222—87《电工电子产品环境试验第二部分：试验方法温度变化试验方法》进行高温试验及温度变化试验。

4、Temperature Aging(温度老化)：根据需求将PCBA放置在恒定的高温环境中，如85°C或100°C的恒温箱中，持续一定时间(通常几小时到数百小时)。这可以模拟电子设备在长时间高温环境下的使用情况，测试PCBA的耐热性能。

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5、其实元器件的老化，在供应商所提供的承认书(规格书)中多有提到.只不过需要测试的话需要较多的专业的设备。一般上来说，非专业厂商去分析的话会有一定的难度。不同的原器件老化温度也有所不同，一般50度、85度、100度等。

高温老化通过高温老化可以使元器件的缺陷、焊接和装配等生产过程中存在的隐患提前暴露，老化后再进行电气参数测量，筛选剔除失效或变值的元器件。

但是如果产品老化的时间达到一定的水平，例如产品外壳温度125摄氏度，老化时间1000小时，就是考察产品的寿命和失效率的一个重要手段了。一般的产品老化在96小时到160小时之间，对产品的外壳温度或环境温度有一定要求。

通过在测试把有问题的产品在留在工厂，没有问题的产品给用户，以保证卖给用户的产品是可靠的或者是问题少的，这就是老化测试的意义。分为元器件老化和整机老化，尤其是新产品。在考核新的元器件和整机的性能，老化指标更高。

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在电子产品在加工过程中，由于经历了复杂的加工和元器件物料的大量使用，将引入各种缺陷（即便设计再好的产品亦如此）。

以便提高硬品之制造质量，维持设计时赋予之水平，因此通过筛选的交货产品都是具有优良质量与高可靠度者，可以让客户安心的正常使用。

1、在电子整机产品生产厂家里，广泛使用的老化筛选项目有高温存储老化、高低温循环老化、高低温冲击老化和高温功率老化等，其中高温功率老化是目前使用最多的试验目。

2、设定测试条件：确定老化测试的时间和环境条件，通常根据产品的预计使用寿命和工作环境来设置。模拟负载：通过连接负载电阻、电流源等设备，在PCBA上产生可靠的负载。负载的选择应符合产品的实际使用情况。

3、在老化测试中，一般采用高温高湿、高温干燥、低温、紫外线辐射等老化环境来模拟实际使用环境。

4、低温试验按GB/T2421—89《电工电子产品环境试验第二部分：试验方法低温试验》；GB/T24222—87《电工电子产品环境试验第二部分：试验方法温度变化试验方法》进行低温试验及温度变化试验。温度范围：-70℃～10℃。

5、这样可以通过计算来测定你的产品在普通环境使用下的扩腐寿命。还有就是高温烘箱。用于检测你的产品在高温下的承受能力。还有高低温湿热交换箱。

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